蔚華科積極搶進化合物半導(dǎo)體等檢測設(shè)備領(lǐng)域

作者 | 發(fā)布日期 2024 年 04 月 23 日 17:03 | 分類 企業(yè)

半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商蔚華科技于光學(xué)檢測領(lǐng)域取得突破,自2023年底推出非破壞性碳化硅(SiC)缺陷檢測系統(tǒng),今年將積極搶進化合物半導(dǎo)體、功率半導(dǎo)體、Micro LED三大市場檢測設(shè)備領(lǐng)域。

蔚華總經(jīng)理楊燿州表示,在永續(xù)環(huán)保的浪潮下,具有高功率、高壓特性的化合物半導(dǎo)體已成為全球能源及電動車產(chǎn)業(yè)發(fā)展主流,碳化硅基板的質(zhì)量與價格是決定元件制造、模塊生產(chǎn)質(zhì)量的關(guān)鍵因素,也是推動產(chǎn)業(yè)發(fā)展的核心驅(qū)動力,市場上更有“得碳化硅基板者得天下”的說法。

蔚華鎖定碳化硅基板的市場需求,去年與南方科技共同發(fā)表業(yè)界首創(chuàng)的JadeSiC-NK非破壞性致命性缺陷檢測系統(tǒng),目前蔚華更已與全球多家指標性的大廠進行驗證。

蔚華也透露,將持續(xù)強化在光學(xué)檢測、芯片測試等領(lǐng)域的研發(fā)投入,并參與24日的電子生產(chǎn)制造設(shè)備展。在這次展會上,蔚華將推動SiC基板的100%檢測的理念,并促進碳化硅基板交易模式的變革,穩(wěn)定碳化硅基板的商業(yè)發(fā)展。

圖片來源:拍信網(wǎng)正版圖庫

本次是蔚華首次進入化合物半導(dǎo)體專區(qū)展位,除了展示JadeSiC-NK的最新技術(shù)發(fā)展外,還帶來可有效反映寬能隙材料內(nèi)隱特性的JadeSA-WBG三維應(yīng)力分析檢測系統(tǒng),適用于SiC基板、同質(zhì)及異質(zhì)磊晶、元件制程材料應(yīng)力及晶型掌握。

另外,今年針對磊晶制程延伸開發(fā)的JadeSiC-EPi,通過光學(xué)掃描方式檢測磊晶層上的致命缺陷。蔚華與南方科技合作,將光學(xué)技術(shù)運用于化合物半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域,擴展到其他熱門應(yīng)用上,如:適用于Micro LED晶圓巨量PL及非接觸式巨量漏電檢測的JadeML解決方案,未來雙方也計劃加速開發(fā)超穎材料、硅光子等創(chuàng)新光學(xué)檢測技術(shù)。

此外,為滿足市場上功率半導(dǎo)體、射頻、SoC等芯片的多樣化測試需求,蔚華整合經(jīng)銷品牌自動化測試與量測系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)廠商NI、意大利領(lǐng)導(dǎo)品牌Osai以及自有產(chǎn)品,推出測試設(shè)備及板件維修服務(wù)。在功率半導(dǎo)體測試方面,Osai的功率模塊測試分類機具有高度自動化和靈活性,能夠針對不同測試環(huán)境及需求進行測試性能擴充,搭配上CREA的測試解決方案,滿足市場對于KGD(Known Good Die)的測試要求及趨勢。(來源:財訊快報)

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